LED测量

在任何工业过程中，对高效生产力不断增长的需求均要求工艺稳定且可预测。在基于LED的工艺中（例如粘合剂的紫外固化），需要对LED光源进行监控，以保持峰值性能。对正确定义的LED参数进行适当监控，将其作为触发预防性维护的信号，并且还可以启用过程控制，以便可以自动校正漂移参数并将过程保持在其指定的包络范围内 - 在理想情况下不会出现中断。

根据应用情况，关键LED参数可包括表面上的辐照度（W/cm2）、剂量（随时间沉积在表面上的总J/cm2），也可能包括总发射通量或功率（W）。有时，光谱数据也很重要。
但测量LED的这些参数有点棘手；LED和激光器不太一样，但也不像灯具。它们的光束通常极为发散，并且光谱分布通常为加宽的峰值 - 并非激光器那样的窄峰值，也不是宽带扩频。

Ophir提供了PD300RM系列探头，用来测量辐照度和剂量。它们是基于紫外增强的光电二极管探头，在整个指定光谱范围内均经过校准；这意味着一个探头可用于整个光谱峰值范围。它们配备有集成漫射器，能够让PD300RM探头实现余弦校正角度响应，因此可消除入射角的影响。

Ophir提供各种尺寸和配置的积分球，用来测量总发射功率。它们可配备集成探头，并经过完全校准，并且不会为客户配备探头，客户无需将其与自己的探头共用，或者可能 - 从内部照明 - 正如均匀的广域光源一样。大多数积分球模型包括多个端口，能够出于其他测量目的（例如光谱分析）对光进行采样。

Ophir 还提供了光度探头 PD300-CIE，用于测量照度，单位为Lux或烛光单位。 查看我们的在线LED 探头查找器 ， 以帮助您找到适用于自身LED测量的探头。